关于BTB/FPC母座connector测试，目前绝大局部的企业、厂商采用轻触计划降临时应对;运用pogo pin的厂商测试母座时，只能接触连接器端子顶点位置，接触区域面积小，接触方式为点对点，相对弹片接触面小，易磨损及运用次数到一定的寿命后易接触不良，招致误测等现象。
pogopin是由弹簧、针管、针轴三个根本部件预压之后构成的弹簧式探针;它自身由几个部件制造、装配、涂装而成，工艺程序复杂，但运用寿命仍然不高;由于pogopin自身存在的一些问题，在实践操作针对BTB母座connector测试时，我们理解到一些厂商的实践状况：
1.测试不稳定，pogopin自身是多配件构造，接触点多，易产生接触不稳定、阻抗分歧性低等问题;
2.测试时探针经常性扎歪，然后需求人员重新进行探针调整，糜费了大量的时间和人工本钱;
3.卡PIN：同样由于由多构造组合而成，这个在pogopin身上是防止不了的问题;
4.极易断针：随着pitch的减少，pogo的针径也越来越小，使得探针的断针风险逐步增加;
5.运用寿命很短：探针的运用寿命均在30000次以下，并容易磨损，运用次数到一定的寿命后易招致接触不良、误测等现象;
以上状况相对呈现率较高，针对以上的状况，自然导致企业本钱的增加，测试稳定性差，良品率低等问题。
针对以上运用pogo测试BTB母座connector，下面简单引见几个方面：
1.弹片微针模组有一体成型，后期加硬镀金处置，接触外形(可定制化)很容易依照客户请求制造;弹片为一体化构造，减少了接触点，防止产生接触不稳定、阻抗分歧性低等问题;
2.在测试母座时，弹片头部插入连接器内端子，使其产生一定的张开量，这样能够保证弹片接触面与BTB连接器端子两面不断坚持接触状态;测试公座时，锯齿型弹片大面积充沛和连接器接触点接触，保证测试稳定;
3.电传播导于同一资料体内，电阻恒定，简直没有电流衰减，具有更好的衔接功用，额定电流为3A;
4.由于一体成型，完整不会呈现卡pin现象，并且运用寿命能到达30万次以上;
5.测试母座时，定制的斜口性弹片的头部插入BTB连接器内弹片启齿之间，对BTB连接器弹片产生一定的张开量，微针模组弹片接触面与BTB连接器弹片两面不断坚持接触状态，微针模组弹片头型自清洁设计免维护保证长期稳定性;
6.一体式设计，精准度高，完整不会呈现扎歪的问题;
7.大电流BTB弹片微针模组的测试良率能到达99.5%;
8.能更好的应对pitch≤0.2mm的范畴;
9.运用弹片微针模组(blade block)在同一模组，测试前和测试20次后，连接器上根本看不到任何扎痕;
针对市场上，企业运用pogopin一系列的问题，我们自主创新的大电流BTB弹片微针模组(blade block)的处理计划能更好的应对，协助企业俭省本钱。
相较于目前市场上的痛点，KZT凯智通微电子自主研发的大电流弹片微针模组(blade block)，一体成型的弹片根绝了卡pin、衔接稳定性差、断针，接触外形可定制化防止了产生接触不稳定、阻抗分歧性低，能应对pitch≤0.2mm、测试效率高、稳定性高、能兼容小pitch BTB公母座稳定且牢靠、能接受的顶点为50A大电流、运用寿命更长、快速出样、订货周期短等优点。
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